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精實六標準差應用微位相差膜製程之成本降低

為了解決光華投影機維修的問題，作者林正章 這樣論述：

本研究利用精實六標準法D(定義)、M(量測)、A(分析)、I(改善)、C(控制)其改善流程架構。在定義階段，目標設定將現行彩色濾光片之微位相差膜每片成本降低8%。在量測階段，確認機台跟機台和樣本之間量測無變異性，並以製程能力分析微位相差膜光阻製程能力穩定，符合常態無偏移趨勢。在分析階段，利用樹狀圖進行三階資料分析，確認潛在因子，將要因進行C&E Matrix評分，評定優先順序，進行驗證，選擇主要因子第二家微位相差膜光阻導入之B光阻進行假設檢定，假設結果B光阻導入，Cost明顯改善，為顯著因子。在改善階段，進行第二家微位相差膜光阻導入之B光阻，光學、可靠度及小中量CELL/Module良率驗證

，驗證結果光學特性和良率同A光阻規格無差異性。在控制階段，導入B光阻，並達成定義階段所設定目標，每片成本由8%降低至17.62%，以精實六標準差法驗證方式，導入B光阻其單價較A光阻低且光學特性以及良率同原量產品之A光阻，降低生產成本，進而提高產品競爭力。