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以資料探勘技術識別造成彩色濾光片製程缺陷之群聚現象

為了解決sup全名的問題，作者洪瑜君 這樣論述：

TFT-LCD全名稱為「薄膜電晶體液晶顯示器」(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)。發明於1960年，經過不斷的改良在1991年時成功的商業化為筆記型電腦用面板，並且不斷拓展TFT-LCD模組在從傳統的電腦顯示器的應用轉向到電視應用，台灣的面板大廠也不斷的拓展TFT-LCD這一塊市場，更在2005年擬定於台南科學園區內成立世界最大液晶電視專區，命名為「樹谷園區」。「樹谷園區」的成立，將整合台灣中、下游廠商，帶動整體產業的成長，其中不乏將帶動周邊零組件的成長，LCD零組件有玻璃基板、彩色濾光片、偏光板/抗反射膜/抗暈眩膜、驅動IC、背光模組

、冷陰極管、LED光源、平面光源、導光板、印刷電路板、鐵框/模(治)具/支架、控制IC、INVERTER、ITO導電玻璃、其它.....等。在TFT-LCD所有零組件中，以彩色濾光片(Color Filter) 的成本最為昂貴。本研究以彩色濾光片做為研究對象，探討缺陷之連續性群聚現象，缺陷之群聚現象以目前之SPC管制圖技術，並無法達到有效的控管。本研究應用資料探勘 (Data Mining)技術，探勘產品中的不良缺陷資料。在實證過程中，以決策樹方法找出最有可能的產生缺陷的製程，針對特定製程所產出之不良原因資料，再以叢聚分析法將不良缺陷資料分群，最後以視覺化技術，分析是否具有缺陷群聚現象產生。如

能針對群聚現象之缺陷造成原因進行分析，將可改善製程品質，並執行集中蒐集與集中修復，可提升製程品質並降低缺陷判定時間，進而提升製程良率。